我们(men)有(you)时(shi)会遇(yu)上特(te)殊情况,在这样的(de)情况(kuang)下我们(men)在前面(mian)讲到(dao)的方法就都(dou)不适用了。有的时候(hou)我们(men)往往会看(kan)到在一(yi)条(tiao)单体k线柱上方或下(xia)方(fang)留下了一(yi)根长影(ying)线(xian)(上影或(huo)下影线大于实体1-2倍)。对(dui)这样(yang)的特殊K线体,我们将介(jie)绍(shao)另一种方法―影线(xian)测量法。运用这种(zhong)方法就可以用该线柱的(de)上(shang)下影线测(ce)量其下一(yi)个(ge)波段的高(gao)低(di)点。如图3-4所示(shi)。
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