我们有(you)时会(hui)遇上特殊情况,在这样的情况下我(wo)们在前面讲到(dao)的方法(fa)就都不适用了。有(you)的时候我们往往(wang)会看到在一条(tiao)单体(ti)k线柱上(shang)方或(huo)下(xia)方留下了一(yi)根(gen)长影线(上影或下影线(xian)大(da)于(yu)实体1-2倍(bei))。对这样的(de)特殊K线体,我们将介绍(shao)另一种方法(fa)―影(ying)线测量法(fa)。运用这种方(fang)法就(jiu)可以用该线柱的(de)上下影线(xian)测量(liang)其下一(yi)个波段(duan)的高(gao)低(di)点。如图3-4所(suo)示。
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