我们(men)有时会(hui)遇(yu)上特(te)殊情况,在这样的(de)情况下(xia)我们在(zai)前面讲到(dao)的方法(fa)就都(dou)不适(shi)用了。有的时候(hou)我们往往会(hui)看到在一(yi)条单体(ti)k线(xian)柱上(shang)方(fang)或(huo)下(xia)方留下了(le)一根(gen)长影线(上影或(huo)下影线大于(yu)实体1-2倍)。对这样的特(te)殊K线体,我们将介绍另一种(zhong)方法―影线测量法。运用(yong)这种方法(fa)就可以用该线柱的上(shang)下影线测量其下一个波(bo)段的高低(di)点。如图3-4所示(shi)。
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